产品介绍BeNano180纳米粒度分析仪是采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在背向173°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相曲线，结合数学方法就可以得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯-爱因斯坦方程就得到样品的粒度结果。基本性能指标粒径检测原理动态光散射技术粒径范围0.3nm–10μm样品40μL–1mL检测角度173°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS分子量测试分子量范围342Da–2x107Da微流变测试频率

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Bettersize3000Plus激光图像粒度粒形分析仪是一种激光+图像二和一的粒度粒形分析系统。它的激光散射系统为双镜头斜入射光学系统，成像系统为动态双路远心显微成像系统，可同步进行粒度和粒形分析，实现了一机两用。双镜头斜入射光学系统是由大功率泵浦偏振激光器、进口镜头组、石英样品池和全角度光电探测器阵列组成。由于采用了高性能的镜头和独特的激光斜入射结构，在单光束条件下实现了全角度散射光信号的接收——这是百特原创的专利技术。这种技术不仅达到了进口仪器的用多光束技术来扩大散射光角度的效果，还避免了多光束技术造成的间断散射光信号的连接偏差和多波长造成的样品折射率偏差，使测试结果更准确，同时实现了

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产品介绍BeNano90Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano90+BeNanoZeta二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径检测原理动态光散射技术粒径范围0.3nm–15μm样品量3μL–1mL检测角度90°+12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试原理相位分析光散射技术检测角度12°Zeta范围无实际限

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